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2005-07-29
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厂家:TI [Texas Instruments]
内容:EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLERS IEEE STD 1149.1 JTAG TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES
SN74LVT8980 相关资料
其它信息:
在电路板和系统电平上提供内置式访问IEEE标准1149.1扫描进出的测诫/维修设施;简单接口低成本3.3V微处理器/微控制器通过8位异步读/写数据总线;简单的编程通过扫描级别命令集和智能终端存取端口;透明生产协议用来支持终端存取端口配置;用TI的寻址扫描端口;灵活测试时钟发电机提供可编程部分,Gated-测试时钟和自由运行-测试时钟模式;支持离散控制模式;可编程32位的测试周期计数器;允许几乎无限的扫描/测试长度;延迟长达15个测试时钟的周期
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